型 號：劍橋S-360
產 地：英國
設備單價：127.65（萬元）
技術指標：連X射線能譜儀。SEM：放大倍數5X－300000X,通常一萬倍以內，分辨率約4納米。
主要功能：SEM：微形貌觀察。廣泛應用于地質學、材料學、生物學、化學、物理學、中子學等領域。
所屬學科：地質工程與材料科學
所屬實驗室：化學科學與工程學院-新材料開放實驗室
設備負責人：焦淑靜
收費標準：60元/小時
聯系電話：010-89733991
掃描式電子顯微鏡
來源：科研與設備處
發布日期：2010-03-29