型 號:ZEISS Crossbeam 540
產 地:德國
性能指標:電子束分辨率0.9nm@15kV, 1.8nm@1kV;離子切割精度3.5nm,束流1pA~100nA;探測器:BSE(2個)、SE(2個)、X射線能譜、EBS
主要功能(用途):納米精度、微米視域的三維成像(形貌、密度),微、納米精度的二維成像(形貌、密度),微米精度的二維、三維元素分析。
聯系人:孫朗秋
聯系電話:010-89739103

測試項目 |
校內價格 |
對外價格 |
SEM手動圖像采集 |
800元/小時 |
1150元/小時 |
SEM自動拼圖 |
800元/小時 |
1150元/小時 |
FIB-SEM三維成像 |
1600元/小時 |
2300元/小時 |
EDS能譜分析 |
18元/點 |
25元/點 |
EDS元素面分布 |
40元/面 |
60元/面 |
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